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IM3523


应用于生产线和自动化测试领域的选择
       ● 基本精度±.5,测量(DC,4Hz~2kHz,5mV~5V,1μA~5mA)
       ● 在比如C-D和ESR这样的混合测量条件下,可以以往产品的速度不间断测试。
       ● 内置比较器和BIN功能
       ● 2ms的测试时间

LCR测试仪IM3523测量方法:连续测量不同条件
       在电容的测量条件中希望以12Hz测量C-D。希望以1kHz测量ESR。这时,使用1台告诉连续测量不同条件。

LCR测试仪IM3523测量方法:顺畅的进行生产线的设置改的面板读取功能
       为了使用1台LCR测试仪测量多种产品,要求高效率的改设置。
       IM3523的面板保存功能,多保存6组测量条件,还能保存128个开路/短路补偿和线长补偿等的补偿值。使用面板功能读取所保存的测量条件。除了手动读取以外,可以使用外部控制端口控制面板编号的读取,因此能缩短构筑自动化检查产线的时间。
 
可靠的产线检查:接触检查功能
       检查4端子测量时样品间的接触不良。
       测量LPOT〜LCUR间和HPOT〜HCUR间的接触电阻,如果在所设置的阈值以上时则显示错误。

技术参数
测量模式 LCR,连续测试
测量参数 Z,Y,θ,Rs(ESR),Rp,DCR(DC电阻),X,G,B,Cs,Cp,Ls,Lp,D(tanδ),Q
测量量程 100mΩ~100MΩ,10个量程(所有参数根据Z定义)
可显示量程 Z,Y,Rs,Rp,Rdc,X,G,B,Ls,Lp,Cs,Cp:
± (0.000000 [单位]* ~9.99999G [单位])(*为最高分辩率时的显示位数)
 只有 Z和Y显示真有效值
θ: ± (0.000°~999.999°), D: ± (0.00000~9.99999)
Q: ± (0.00~99999.9), Δ%: ± (0.0000%~999.999%)
基本精度 Z : ±0.05%rdg. θ: ±0.03°
测量频率 40Hz ~200kHz (1mHz ~10Hz)
测量信号电平 正常模式
V模式,CV模式: 5mV~5Vrms,1mVrms
CC模式: 10μA~50mArms,10μArms
输出阻抗 正常模式:100Ω
显示 单色LCD
测量时间 2ms(1kHz,FAST,代表值)
功能 比较器,分类测量(BIN功能),面板读取/保存、存储功能
接口 EXT I/O(处理器),USB通信(高速)
选件:RS-232C,GP-IB,LAN任选一
电源 100~240V AC,50/60Hz,MAX50VA
尺寸及重量 260mm W×88mm H×203mm D, 2.4kg
附件 电源线×1,使用说明书×1,CD-R(包括PC指令和样本软件)×1


4端子探头L2000
DC~8MHz,1m长

4端子开尔文夹9140-10
DC~200kH,50 Ω,1 m长

镊形探头L2001
线长73cm,DC~8MHz,50Ω,前端电极间隔:0.3~6mm(IM9901:JIS尺寸1608~5750)(IM9902:JIS尺寸0603~5750)

测试治具9261-10
线长1m,DC~5MHz,特性阻抗50Ω,可测端口直径:0.3~1.5mm

测试治具9262
DC~8 MHz, 直接连接型

SMD测试治具9263
直接连接型, DC~5 MHz 测试尺寸: 1mm~10.0mm

SMD测试治具9677
用于侧面有电极的SMD DC~120MHz,测试样品 尺寸:3.5mm±0.5mm

SMD测试治具9699
用于底部有电极的SMD DC~120MHz,测试样品 尺寸:宽1.0~4.0mm,高1.5mm以下


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